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Image:       BQ79606A-Q1 BQ79606A-Q1 Texas Instruments 电源 电源管理 IC 适用于汽车 应用 具有符合 aec-q100 标准的下列特性: 器件温度等级 2:–40°C 至 +105°C 的环境工作温度范围 器件 hbm esd 分类等级 2 器件 cdm esd 分类等级 c4b 电压监控器、温度监控器和通信功能: 符合 SafeTI™-26262 asil-D 标准 ± 1.1mv 电池电压测量精度,具有失调电压 低至 1.2hz 的可配置数字低通滤波器 支持同步电池电压测量 在 1ms 内实现堆叠的完整精度测量(96 节电池) 可选环形架构可确保即使通信电缆断开也能进行堆叠通信 监控 3 至 6 条电池连接和多达 6 个 ntc/辅助通道 集成 16 位模数转换器 (adc) 集成高电压 afe 滤波器组件 专为可靠的热插拔性能而设计 可堆叠配置,支持高达 64个器件(1 个基础器件 + 63 个堆叠器件,384 节串联电池) 隔离式差分菊花链通信 支持基于变压器或电容器的隔离 可配置的 sinc3 数字滤波器 集成硬件保护器 针对电池过热和欠温提供二级保护 针对电池过压和欠压提供二级保护 硬件保护器功能:符合 SafeTI™-26262 asil-B 标准 集成电池平衡 mosfet 高达 150ma 专为通过 bci 测试而设计 uart 主机接口
Image:           ADUM7704 ADUM7704 Analog Devices Inc 集成电路 数据采集 - 模数转换器 优势和特点 产品详情 adum7704 是一款高性能二阶 Σ-Δ 调制器,它基于 adi公司的 icoupler® 技术,通过片内数字隔离功能,可将模拟输入信号转换为高速单位的数据流。该套件由 4.5 V 至 20 V 电源 (vdd1) 供电,可接受 ±50 mV(±64 mV 满量程)的伪差分输入信号。伪差分输入适合在需要电气隔离的高电压应用中进行并联电压监控。 模拟输入由高性能模拟调制器持续采样,并转换为数据速率高达 21 mhz 的 1 密度数字输出流。可以使用适当的 sinc3 数字滤波器重构原始信息,以便在 78.1 ksps 时以 256 抽取率和 20 mhz 主时钟实现 86 dB 的信噪比 (snr)。串行输入和输出使用 5 V 或 3.3 V 电源 (vdd2) 运行。 串行接口采用数字隔离。高速互补金属氧化物半导体 (cmos) 技术与整体式变压器技术相结合,可实现片内隔离,从而提供比光耦合器套件等替代方案更出色的性能特点。adum7704 采用 16 引脚、宽体 soic_w 封装(工作温度范围为 −40°C 至 +125°C),以及 8 引脚、宽体 soic_ic 封装(工作温度范围为 −40°C 至 +105°C)。
Image:           ADUM7702 ADUM7702 Analog Devices Inc 集成电路 数据采集 - 模数转换器 adum7702 是一款高性能二阶Σ-Δ 调制器,具有基于 adi 公司icoupler® 技术的片内数字隔离功能,可将模拟输入信号转换为高速、一位数据流。该套件由 4.5 V 至 5.5 V 电源 (vdd1) 供电,可接受 ±50 mV(±64 mV 满量程)的伪差分输入信号。伪差分输入适合在需要电气隔离的高电压应用中进行并联电压监控。 模拟输入由高性能模拟调制器持续采样,并转换为数据速率高达 21 mhz 的 1 密度数字输出流。可以使用适当的 sinc3 数字滤波器重构原始信息,以便在 78.1 ksps 时以 256 抽取率和 20 mhz 主时钟实现 86 dB 的信噪比 (snr)。串行输入和输出使用 5 V 或 3 V 电源 (vdd2) 运行。 串行接口采用数字隔离。高速互补金属氧化物半导体 (cmos) 技术与整体式变压器技术相结合,使得片内隔离能够提供比光耦合器套件等替代方案更出色的性能特点。adum7702 采用 16 引脚 soic_w 和 8 引脚 soic_ic 封装,工作温度范围为 −40°C 至 +125°C。