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器件类型半导体
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Image: AMC1303M0520 AMC1303M0520 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻器的电流测量进行优化的引脚可兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 曼彻斯特编码或未编码的位流选项 10mhz 和 20mhz 时钟选项 出色的直流性能： 偏置误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 温漂：±1 µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 瞬态抗扰度：100kV/µs（典型值） 系统级诊断 特性 安全相关认证： 符合 din V vde V 0884-11 (vde V 0884-11): 2017-01 标准的 7000 vpk 增强型隔离 符合 ul1577 标准且长达 1 分钟的 5000vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 额定扩展工业温度范围：–40°C 至 +125°C
Image: AMC1306M05 AMC1306M05 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻器的电流测量进行优化的引脚可兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 曼彻斯特编码或未编码的位流选项 出色的直流性能： 失调电压误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 温漂：1µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 瞬态抗扰性：100kV/µs（典型值） 系统级诊断 功能 安全相关认证： 7000vpeak 增强型隔离，符合 din vde V 0884-11: 2017-01 标准 符合 ul1577 标准且长达 1 分钟的 5000vrms 隔离 符合 can/csa No. 5A 组件验收服务通知和 iec 62368-1 终端设备标准 完整的额定工作温度范围：–40°C 至 +125°C
Image: AMC1306E05 AMC1306E05 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻器的电流测量进行优化的引脚可兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 曼彻斯特编码或未编码的位流选项 出色的直流性能： 失调电压误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 温漂：1µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 瞬态抗扰性：100kV/µs（典型值） 系统级诊断 功能 安全相关认证： 7000vpeak 增强型隔离，符合 din vde V 0884-11: 2017-01 标准 符合 ul1577 标准且长达 1 分钟的 5000vrms 隔离 符合 can/csa No. 5A 组件验收服务通知和 iec 62368-1 终端设备标准 完整的额定工作温度范围：–40°C 至 +125°C针对基于分流电阻器的电流测量进行优化的引脚可兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 曼彻斯特编码或未编码的位流选项 出色的直流性能： 失调电压误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 温漂：1µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 瞬态抗扰性：100kV/µs（典型值） 系统级诊断 功能 安全相关认证： 7000vpeak 增强型隔离，符合 din vde V 0884-11: 2017-01 标准 符合 ul1577 标准且长达 1 分钟的 5000vrms 隔离 符合 can/csa No. 5A 组件验收服务通知和 iec 62368-1 终端设备标准 完整的额定工作温度范围：–40°C 至 +125°C
Image: AMC1106M05 AMC1106M05 Texas Instruments 半导体 隔离器 ±50mv 输入电压范围，针对使用分流电阻器测量电流进行了优化 曼彻斯特编码或未编码的位流选项 出色的直流性能，支持系统级高精度检测： 失调误差和温漂：±50 µV，±1 µV/°C（最大值） 增益误差和温漂：±0.2%，±40 ppm/°C（最大值） 3.3V 运行电压，可降低隔离栅两侧的功率耗散 系统级诊断 特性 高电磁场抗扰度
Image: AMC1106E05 AMC1106E05 Texas Instruments 半导体 隔离器 ±50mv 输入电压范围，针对使用分流电阻器测量电流进行了优化 曼彻斯特编码或未编码的位流选项 出色的直流性能，支持系统级高精度检测： 失调误差和温漂：±50 µV，±1 µV/°C（最大值） 增益误差和温漂：±0.2%，±40 ppm/°C（最大值） 3.3V 运行电压，可降低隔离栅两侧的功率耗散 系统级诊断 特性 高电磁场抗扰度
Image: AMC1305M05-Q1 AMC1305M05-Q1 Texas Instruments 半导体 隔离器 汽车电子 应用认证 具有符合 aec-q100 的下列结果： 温度等级 1：-40°C 至 +125°C 人体放电模式 (hbm) 静电放电 (esd) 分类等级 2 组件充电模式 (cdm) esd 分类等级 C6 与以下器件引脚兼容的系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 互补金属氧化物半导体 (cmos) 或低压差分信令 (lvds) 数字接口选项 出色的直流性能：
Image: AMC1304L05-Q1 AMC1304L05-Q1 Texas Instruments 半导体 隔离器 汽车电子 应用认证 具有符合 aec-Q100 的下列结果： 温度等级 1：-40°C 至 +125°C 人体放电模式 (hbm) 静电放电 (esd) 分类等级 2 组件充电模式 (cdm) esd 分类等级 C6 与以下器件引脚兼容的系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv cmos 或 lvds 数字接口选项 出色的直流性能： 偏移误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2% 或 ±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离
Image: AMC1304M05-Q1 AMC1304M05-Q1 Texas Instruments 半导体 隔离器 汽车电子 应用认证 具有符合 aec-Q100 的下列结果： 温度等级 1：-40°C 至 +125°C 人体放电模式 (hbm) 静电放电 (esd) 分类等级 2 组件充电模式 (cdm) esd 分类等级 C6 与以下器件引脚兼容的系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv cmos 或 lvds 数字接口选项 出色的直流性能： 偏移误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2% 或 ±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件验收服务通知
Image: AMC1304M05-Q1 AMC1304M05-Q1 Texas Instruments 半导体 隔离器 汽车电子 应用认证 具有符合 aec-Q100 的下列结果： 温度等级 1：-40°C 至 +125°C 人体放电模式 (hbm) 静电放电 (esd) 分类等级 2 组件充电模式 (cdm) esd 分类等级 C6 与以下器件引脚兼容的系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv cmos 或 lvds 数字接口选项 出色的直流性能： 偏移误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2% 或 ±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件验收服务通知 瞬态抗扰度：15kv/µs（最小值） 高电磁场抗扰度 （请参见应用手册 slla181a） 5mhz 至 20mhz 外部时钟输入 18v 片载低压降 (ldo) 稳压器
Image: AMC1304L25-Q1 AMC1304L25-Q1 Texas Instruments 半导体 隔离器 汽车电子 应用认证 具有符合 aec-Q100 的下列结果： 温度等级 1：-40°C 至 +125°C 人体放电模式 (hbm) 静电放电 (esd) 分类等级 2 组件充电模式 (cdm) esd 分类等级 C6 与以下器件引脚兼容的系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv cmos 或 lvds 数字接口选项 出色的直流性能： 偏移误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2% 或 ±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值）
Image: AMC1305L25-Q1 AMC1305L25-Q1 Texas Instruments 半导体 隔离器 汽车电子 应用认证 具有符合 aec-q100 的下列结果： 温度等级 1：-40°C 至 +125°C 人体放电模式 (hbm) 静电放电 (esd) 分类等级 2 组件充电模式 (cdm) esd 分类等级 C6 与以下器件引脚兼容的系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 互补金属氧化物半导体 (cmos) 或低压差分信令 (lvds) 数字接口选项 出色的直流性能： 偏移误差：±50µV 或 ±150µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件验收服务通知
Image: AMC1336 AMC1336 Texas Instruments 半导体 隔离器 输入结构专为电压测量而优化： 输入电压范围：±1V 输入电阻：1.5GΩ（典型值） 出色的直流性能： 失调电压误差：±0.5mv（最大值） 温漂：±4µV/°C（最大值） 增益误差：±0.25%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 瞬态抗扰性：115kv/µs（典型值） 高侧电源缺失检测 安全相关认证： 符合 din vde V 0884-11: 2017-01 标准的 8000vpeak 增强型隔离 符合 ul1577 标准且长达 1 分钟的 5700vrms 隔离 iec 62368-1 终端设备标准
Image: AMC1336-Q1 AMC1336-Q1 Texas Instruments 半导体 隔离器 aec-q100适用于汽车应用： 温度等级1:–40°C至125°C，T A 为电压测量优化的输入结构： 输入电压范围：±1 V 输入电阻：1.5 GΩ（典型值） 出色的直流性能： 偏移误差：±0.5 mV（最大） 偏移漂移：±4µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2%（最大） 增益漂移：±40 ppm/°C（最大值） 瞬态抗扰度：115 kV/µs（典型值） 缺少高压侧电源检测 安全相关认证： 8000-V峰值加强隔离符合din vde V 0884-11:2017-01 根据ul1577，5700-V rms隔离1分钟 iec 62368-1终端设备标准
Image: AMC3306M25 AMC3306M25 Texas Instruments 半导体 隔离器 带集成DC/DC转换器的3.3-V或5-V单电源 ±250 mV输入电压范围，针对使用并联电阻器的电流测量进行了优化 低直流错误： 偏移误差：±50µV（最大） 偏移漂移：±1µV/°C（最大） 增益误差：±0.2%（最大） 增益漂移：±35 ppm/°C（最大值） 高cmti:75 kV/µs（最小值） 系统级诊断功能 安全相关认证： 根据din vde V 0884-11，6000-V峰值加强隔离 根据ul1577，4250-vrms隔离1分钟 符合cispr-11和cispr-25电磁干扰标准
Image: AMC3306M05 AMC3306M05 Texas Instruments 半导体 隔离器 带集成DC/DC转换器的3.3-V或5-V单电源 ±50 mV输入电压范围，针对使用并联电阻器的电流测量进行了优化 低直流错误： 偏移误差：±50µV（最大） 偏移漂移：±0.4µV/°C（最大） 增益误差：±0.2%（最大） 增益漂移：±35 ppm/°C（最大值） 高cmti:75 kV/µs（最小值） 系统级诊断功能 低电磁干扰：符合cispr-11和cispr-25标准 安全相关认证： 根据din vde V 0884-11，6000-V峰值加强隔离 根据ul1577，4250-vrms隔离1分钟 在扩展的工业温度范围内完全指定：-40°C至+125°C
Image: AMC3302 AMC3302 Texas Instruments 半导体 隔离器 带集成DC/DC转换器的3.3-V或5-V单电源 ±50 mV输入电压范围，针对使用并联电阻器的电流测量进行了优化 固定增益：41 低直流错误： 偏移电压：±50µV（最大） 偏移漂移：±0.5µV/°C（最大） 增益误差：±0.2%（最大） 增益误差漂移：±35 ppm/°C（最大值） 非线性：±0.03%（最大值） 高cmti:85 kV/µs（最小值） 系统级诊断功能 符合cispr-11和cispr-25电磁干扰标准 安全相关认证： 符合din vde V 0884-11的6000-vpk加强型隔离 根据ul1577，4250-vrms隔离1分钟 在扩展的工业温度范围内完全指定：-40°C至+125°C
Image: AMC1300B-Q1 AMC1300B-Q1 Texas Instruments 半导体 隔离器 aec-Q100适用于汽车应用： 温度等级1:–40°C至125°C，TA ±250 mV输入电压范围，针对使用并联电阻器的电流测量进行了优化 固定增益：8.2 低直流错误： 偏移误差：±0.2 mV（最大） 偏移漂移：±0.9µV/°C（最大） 增益误差：±0.3%（最大） 增益漂移：±30 ppm/°C（最大值） 非线性：0.03%（最大值） 3.3-V或5-V高压侧和低压侧操作 故障保护输出 高cmti:100 kV/µs（最小值） 低emi，符合cispr-11和cispr-25标准 安全相关认证： 符合din vde V 0884-11:2017-01的7071-vpk加强型隔离 根据ul1577，5000-vrms隔离1分钟
Image: AMC3330-Q1 AMC3330-Q1 Texas Instruments 半导体 隔离器 符合面向汽车应用的 aec-q100 标准： 温度等级 1: – 40 ° C 至 125 ° C 、 T A 3.3V 或 5V 单电源运行，具有集成直流/直流转换器 ±1V 输入电压范围，针对具有高输入阻抗的电压测量进行了优化 固定增益：2.0 低直流误差： 增益误差：±0.2%（最大值） 增益漂移：±45ppm/°C（最大值） 失调电压误差：±0.3mv（最大值） 温漂±4µV/°C（最大值） 非线性度：±0.02%（最大值） 高 cmti: 85kv/µs（最小值） 系统级诊断功能 安全相关认证： 符合 din vde V 0884-11 (vde V 0884-11) 标准的 6000vpk 增强型隔离：2017-01 符合 ul1577 标准且长达 1 分钟的 4250v<sub>1rmssub>2 隔离 符合 cispr-11 和 cispr-25 emi 标准
Image: AMC3330 AMC3330 Texas Instruments 半导体 隔离器 3.3V 或 5V 单电源运行，具有集成直流/直流转换器 ±1V 输入电压范围，针对具有高输入阻抗的电压测量进行了优化 固定增益：2.0 低直流误差： 增益误差：±0.2%（最大值） 增益漂移：±45ppm/°C（最大值） 失调电压误差：±0.3mv（最大值） 温漂±4µV/°C（最大值） 非线性度：±0.02%（最大值） 高 cmti: 85kv/µs（最小值） 系统级诊断功能 安全相关认证： 符合 din vde V 0884-11 (vde V 0884-11) 标准的 6000vpk 增强型隔离：2017-01 符合 ul1577 标准且长达 1 分钟的 4250v<sub>1rmssub>2 隔离 符合 cispr-11 和 cispr-25 emi 标准
Image: AMC3301 AMC3301 Texas Instruments 半导体 隔离器 3.3V 或 5V 单电源，具有集成直流/直流转换器 ±250mv 线性输入电压范围，针对使用分流电阻器测量电流进行了优化 固定增益：8.2 低直流误差： 输入失调电压：±0.15mv（最大值） 输入温漂±1µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2%（最大值） 增益误差漂移：±40ppm/°C（最大值） 非线性度：±0.04%（最大值） 高 cmti: 85kv/µs（最小值） 系统级诊断功能 安全相关认证： 符合 din vde V 0884-11 标准的 6000v<sub>1pksub>2 增强型隔离 符合 ul1577 标准且长达 1 分钟的 4250v<sub>1rmssub>2 隔离 符合 cispr-11 和 cispr-25 emi 标准

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