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Image: LCC250-12U-4P LCC250-12U-4P Artesyn Embedded Technologies 电源 电源 switching power supplies 250w12v 20.8A UL+csa 60950-1 / 60601-1
Image: LCC250-12U-7P LCC250-12U-7P Artesyn Embedded Technologies 电源 电源 switching power supplies 250w12v 20.8A UL+csa 60950-1 / 60601-1
Image: T-1114 T-1114 Rhombus Industries Inc. adsl transformer reinforced insulation per EN 41003/EN 60950
Image: T-1114G T-1114G Rhombus Industries Inc. adsl transformer reinforced insulation per EN 41003/EN 60950
Image: T48SR3R307 T48SR3R307 Delta Electronics 嵌入式解决方案 评估板 - 嵌入式 - 复杂逻辑器件 (FPGA, CPLD) UL/cul 60950-1 (US & canada) recognized
Image: AMC1305L25 AMC1305L25 Texas Instruments 半导体 二极管/齐纳阵列 针对基于分流电阻的电流测量进行优化的引脚兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 互补金属氧化物半导体 (cmos) 或低压差分信令 (lvds) 数字接口选项 出色的直流性能，支持系统级高精度感测： 偏移误差：±50µV 或 ±150µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 瞬态抗扰度：15kv/µs（最小值） 高电磁场抗扰度
Image: AMC1305M25 AMC1305M25 Texas Instruments 半导体 二极管/齐纳阵列 针对基于分流电阻的电流测量进行优化的引脚兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 互补金属氧化物半导体 (cmos) 或低压差分信令 (lvds) 数字接口选项 出色的直流性能，支持系统级高精度感测： 偏移误差：±50µV 或 ±150µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 瞬态抗扰度：15kv/µs（最小值） 高电磁场抗扰度 （请参见应用手册 slla181a） 外部 5mhz 至 20mhz 时钟输入 可更加轻松地实现系统级同步 可在扩展工业温度范围内运行
Image: AMC1305M05 AMC1305M05 Texas Instruments 半导体 二极管/齐纳阵列 针对基于分流电阻的电流测量进行优化的引脚兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 互补金属氧化物半导体 (cmos) 或低压差分信令 (lvds) 数字接口选项 出色的直流性能，支持系统级高精度感测： 偏移误差：±50µV 或 ±150µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 瞬态抗扰度：15kv/µs（最小值）
Image: AMC1305M25 AMC1305M25 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻的电流测量进行优化的引脚兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 互补金属氧化物半导体 (cmos) 或低压差分信令 (lvds) 数字接口选项 出色的直流性能，支持系统级高精度感测： 偏移误差：±50µV 或 ±150µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 瞬态抗扰度：15kv/µs（最小值） 高电磁场抗扰度 （请参见应用手册 slla181a） 外部 5mhz 至 20mhz 时钟输入 可更加轻松地实现系统级同步 可在扩展工业温度范围内运行
Image: AMC1304L05 AMC1304L05 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻的电流测量进行优化的引脚兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv cmos 或 lvds 数字接口选项 出色的直流性能，支持系统级高精度感测： 偏移误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2% 或 ±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 瞬态抗扰度：15kv/µs（最小值） 高电磁场抗扰度 （请参见应用手册 slla181a） 外部 5mhz 至 20mhz 时钟输入 可更加轻松地实现系统级同步 18v 片载低压降 (ldo) 稳压器 可在扩展工业温度范围内运行
Image: AMC1304L25 AMC1304L25 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻的电流测量进行优化的引脚兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv cmos 或 lvds 数字接口选项 出色的直流性能，支持系统级高精度感测： 偏移误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2% 或 ±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 瞬态抗扰度：15kv/µs（最小值） 高电磁场抗扰度 （请参见应用手册 slla181a） 外部 5mhz 至 20mhz 时钟输入 可更加轻松地实现系统级同步 18v 片载低压降 (ldo) 稳压器 可在扩展工业温度范围内运行
Image: AMC1304M25 AMC1304M25 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻的电流测量进行优化的引脚兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv cmos 或 lvds 数字接口选项 出色的直流性能，支持系统级高精度感测： 偏移误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2% 或 ±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 瞬态抗扰度：15kv/µs（最小值） 高电磁场抗扰度 （请参见应用手册 slla181a） 外部 5mhz 至 20mhz 时钟输入 可更加轻松地实现系统级同步 18v 片载低压降 (ldo) 稳压器 可在扩展工业温度范围内运行
Image: AMC1304M05 AMC1304M05 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻的电流测量进行优化的引脚兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv cmos 或 lvds 数字接口选项 出色的直流性能，支持系统级高精度感测： 偏移误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2% 或 ±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 瞬态抗扰度：15kv/µs（最小值） 高电磁场抗扰度 （请参见应用手册 slla181a） 外部 5mhz 至 20mhz 时钟输入 可更加轻松地实现系统级同步 18v 片载低压降 (ldo) 稳压器 可在扩展工业温度范围内运行
Image: AMC1106E05 AMC1106E05 Texas Instruments 半导体 隔离器 ±50mv 输入电压范围，针对使用分流电阻器测量电流进行了优化 曼彻斯特编码或未编码的位流选项 出色的直流性能，支持系统级高精度检测： 失调误差和温漂：±50 µV，±1 µV/°C（最大值） 增益误差和温漂：±0.2%，±40 ppm/°C（最大值） 3.3V 运行电压，可降低隔离栅两侧的功率耗散 系统级诊断 特性 高电磁场抗扰度 （参见《iso72x 数字隔离器磁场抗扰度》应用报告） 安全相关认证： 符合 din V vde V 0884-11 (vde V 0884-11): 2017-01 标准的 5657 vpk 基本型隔离 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 4000vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、 iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准
Image: AMC1106M05 AMC1106M05 Texas Instruments 半导体 隔离器 ±50mv 输入电压范围，针对使用分流电阻器测量电流进行了优化 曼彻斯特编码或未编码的位流选项 出色的直流性能，支持系统级高精度检测： 失调误差和温漂：±50 µV，±1 µV/°C（最大值） 增益误差和温漂：±0.2%，±40 ppm/°C（最大值） 3.3V 运行电压，可降低隔离栅两侧的功率耗散 系统级诊断 特性 高电磁场抗扰度 （参见《iso72x 数字隔离器磁场抗扰度》应用报告） 安全相关认证： 符合 din V vde V 0884-11 (vde V 0884-11): 2017-01 标准的 5657 vpk 基本型隔离 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 4000vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、 iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准
Image: AMC1305L25 AMC1305L25 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻的电流测量进行优化的引脚兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 互补金属氧化物半导体 (cmos) 或低压差分信令 (lvds) 数字接口选项 出色的直流性能，支持系统级高精度感测： 偏移误差：±50µV 或 ±150µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 瞬态抗扰度：15kv/µs（最小值） 高电磁场抗扰度 （请参见应用手册 slla181a） 外部 5mhz 至 20mhz 时钟输入 可更加轻松地实现系统级同步 可在扩展工业温度范围内运行
Image: AMC1305M25 AMC1305M25 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻的电流测量进行优化的引脚兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 互补金属氧化物半导体 (cmos) 或低压差分信令 (lvds) 数字接口选项 出色的直流性能，支持系统级高精度感测： 偏移误差：±50µV 或 ±150µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 瞬态抗扰度：15kv/µs（最小值） 高电磁场抗扰度 （请参见应用手册 slla181a） 外部 5mhz 至 20mhz 时钟输入 可更加轻松地实现系统级同步 可在扩展工业温度范围内运行
Image: AMC1305M05 AMC1305M05 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻的电流测量进行优化的引脚兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 互补金属氧化物半导体 (cmos) 或低压差分信令 (lvds) 数字接口选项 出色的直流性能，支持系统级高精度感测： 偏移误差：±50µV 或 ±150µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 瞬态抗扰度：15kv/µs（最小值） 高电磁场抗扰度 （请参见应用手册 slla181a） 外部 5mhz 至 20mhz 时钟输入 可更加轻松地实现系统级同步 可在扩展工业温度范围内运行
Image: AMC1304L05 AMC1304L05 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻的电流测量进行优化的引脚兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv cmos 或 lvds 数字接口选项 出色的直流性能，支持系统级高精度感测： 偏移误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2% 或 ±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 瞬态抗扰度：15kv/µs（最小值） 高电磁场抗扰度 （请参见应用手册 slla181a） 外部 5mhz 至 20mhz 时钟输入 可更加轻松地实现系统级同步 18v 片载低压降 (ldo) 稳压器 可在扩展工业温度范围内运行
Image: AMC1304M05 AMC1304M05 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻的电流测量进行优化的引脚兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv cmos 或 lvds 数字接口选项 出色的直流性能，支持系统级高精度感测： 偏移误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2% 或 ±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 瞬态抗扰度：15kv/µs（最小值） 高电磁场抗扰度 （请参见应用手册 slla181a） 外部 5mhz 至 20mhz 时钟输入 可更加轻松地实现系统级同步 18v 片载低压降 (ldo) 稳压器 可在扩展工业温度范围内运行

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