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图片 型号 厂商 标准 分类 描述
Image: 74F401PC 74F401PC Fairchild Semiconductor 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 16-bit gen/chker 14dip
Image: 74F280PC 74F280PC Fairchild Semiconductor 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 9-bit gen/chker 14dip
Image: 74F402PC 74F402PC Fairchild Semiconductor 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 16-bit gen/chker 16dip
Image: DM74AS280N DM74AS280N Fairchild Semiconductor 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 9-bit gen/chker 14dip
Image: DM74AS286N DM74AS286N Fairchild Semiconductor 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 9-bit gen/chker 14dip
Image: SN74ALS280DR SN74ALS280DR Texas Instruments 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 9-bit gen/chker 14soic
Image: SN74AS280DR SN74AS280DR Texas Instruments 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 9-bit gen/chker 14soic
Image: DM74AS286M DM74AS286M Fairchild Semiconductor 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 9-bit gen/chker 14soic
Image: SN74S280N SN74S280N Texas Instruments 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 9-bit gen/chker 14dip
Image: 74AC280SJ 74AC280SJ Fairchild Semiconductor 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 9-bit gen/chker 14sop
Image: CY74FCT480BTSOCTG4 CY74FCT480BTSOCTG4 Texas Instruments 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 8-bit gen/chker 24soic
Image: SN74ALS280DRG4 SN74ALS280DRG4 Texas Instruments 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 9-bit gen/chker 14soic
Image: SN74ALS280DG4 SN74ALS280DG4 Texas Instruments 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 9-bit gen/chker 14soic
Image: 74ACT11286N 74ACT11286N Texas Instruments 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 9-bit gen/chker 14dip
Image: 74ACT11286NE4 74ACT11286NE4 Texas Instruments 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 9-bit gen/chker 14dip
Image: SN74AS280DRG4 SN74AS280DRG4 Texas Instruments 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 9-bit gen/chker 14soic
Image: SN74AS286DRG4 SN74AS286DRG4 Texas Instruments 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 9-bit gen/chker 14soic
Image: SN74AS286NSRG4 SN74AS286NSRG4 Texas Instruments 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 9-bit gen/chker 14so
Image: SN74LS280DRG4 SN74LS280DRG4 Texas Instruments 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 9-bit gen/chker 14soic
Image: MC10H160FN MC10H160FN ON Semiconductor 集成电路 逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器 IC 12-bit gen/chker 20plcc